dobré zprávy! Teradyne dokončila dodávku 6000. J750 Semiconductor Test System
Dnes (6), Teradyne oznámil v North Reading, Massachusetts, USA, že polovodičový testovací stroj řady J750 dosáhl 6000. zásilky. Jako jeden z testovacích výrobců s největší instalovanou kapacitou testovacího systému J750 přivítal Ardentec 6 000. testovací systém J750 Teradyne.
Co se týče spolupráce, Chi-Ming Chang, místopředseda a prezident Ardentec, řekl: „J750 je uznávané řešení na trhu MCU.“ „Nulová stopa“ J750 nám umožňuje maximalizovat využití testovacího prostoru pro zvýšení kapacity a vyšší průchodnost na více místech může snížit náklady na testování. Toto je úspěšná kombinace pro jakékoli testovací prostředí a jsme rádi, že akceptujeme tato zásilka, která je důležitá pro milníky Teradyne. “
Ty Akin, viceprezident Teradyne pro globální prodej, řekl: „Terida s potěšením spolupracuje s Ardentecem na dosažení tohoto důležitého milníku. Od roku 2004 používá Ardentec testovací systém Teradyne J750 k uspokojení měnících se potřeb zákazníků. Se širokou škálou nástrojů může J750 obsluhovat širokou škálu tržních aplikací a různých produktů včetně MCU automobilového průmyslu a IoT aplikací. I přes rostoucí složitost produktu a tlak na trhu, software Teradyne IG-XL pracuje ve spojení s platformou J750. Operace mohou stále účinně snižovat pracovní zátěž zkušebního inženýrství a pomáhat našim zákazníkům dosáhnout nejlepší testovací ekonomiky podle plánu. "
Uvádí se, že řada Teradyne J750 poskytuje přední světové řešení pro testování produktů MCU v automobilovém a spotřebitelském průmyslu a je také světovým lídrem v testování obrazových senzorů. Integrace levných produktů stále roste a rozšířila se na senzory otisku prstu, MEMS a produkty internetu věcí (IoT) s bezdrátovými funkcemi MCU. Škálovatelnost testovacího systému J750 z něj činí ideální volbu pro takové výrobky.
Řada Teradyne J750 je navíc průmyslovým standardem pro kvalitu testů a účinně pomáhá výrobcům polovodičů dosáhnout cílů s nulovou vadou a cílů s více místy. Instalovaná kapacita testovacího systému J750 nyní překročila 6 000 jednotek a byla široce používána ve více než 50 OSAT, což může podporovat kompletní řešení hromadné výroby pro testování destiček a závěrečné testování.
Co se týče spolupráce, Chi-Ming Chang, místopředseda a prezident Ardentec, řekl: „J750 je uznávané řešení na trhu MCU.“ „Nulová stopa“ J750 nám umožňuje maximalizovat využití testovacího prostoru pro zvýšení kapacity a vyšší průchodnost na více místech může snížit náklady na testování. Toto je úspěšná kombinace pro jakékoli testovací prostředí a jsme rádi, že akceptujeme tato zásilka, která je důležitá pro milníky Teradyne. “
Ty Akin, viceprezident Teradyne pro globální prodej, řekl: „Terida s potěšením spolupracuje s Ardentecem na dosažení tohoto důležitého milníku. Od roku 2004 používá Ardentec testovací systém Teradyne J750 k uspokojení měnících se potřeb zákazníků. Se širokou škálou nástrojů může J750 obsluhovat širokou škálu tržních aplikací a různých produktů včetně MCU automobilového průmyslu a IoT aplikací. I přes rostoucí složitost produktu a tlak na trhu, software Teradyne IG-XL pracuje ve spojení s platformou J750. Operace mohou stále účinně snižovat pracovní zátěž zkušebního inženýrství a pomáhat našim zákazníkům dosáhnout nejlepší testovací ekonomiky podle plánu. "
Uvádí se, že řada Teradyne J750 poskytuje přední světové řešení pro testování produktů MCU v automobilovém a spotřebitelském průmyslu a je také světovým lídrem v testování obrazových senzorů. Integrace levných produktů stále roste a rozšířila se na senzory otisku prstu, MEMS a produkty internetu věcí (IoT) s bezdrátovými funkcemi MCU. Škálovatelnost testovacího systému J750 z něj činí ideální volbu pro takové výrobky.
Řada Teradyne J750 je navíc průmyslovým standardem pro kvalitu testů a účinně pomáhá výrobcům polovodičů dosáhnout cílů s nulovou vadou a cílů s více místy. Instalovaná kapacita testovacího systému J750 nyní překročila 6 000 jednotek a byla široce používána ve více než 50 OSAT, což může podporovat kompletní řešení hromadné výroby pro testování destiček a závěrečné testování.